Comprar SN74BCT8374ANTG4 con BYCHPS
Compre con garantía
SN74BCT8374ANTG4
- Número de pieza:
- SN74BCT8374ANTG4
- Fabricante:
- Descripción:
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
- Estado Libre de plomo / Estado RoHS:
- Sin plomo / Cumple con RoHS
- Cantidad disponible:
- 18871 Pieces
- Ficha de datos:
- SN74BCT8374ANTG4.pdf
Introducción
BYCHIPS es el distribuidor de almacenamiento para SN74BCT8374ANTG4, tenemos las existencias para el envío inmediato y también está disponible para el suministro de larga duración. Por favor envíenos su plan de compra para SN74BCT8374ANTG4 por correo electrónico, le ofreceremos el mejor precio según su plan.
Especificaciones
| Tensión de alimentación: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Paquete del dispositivo: | 24-PDIP |
| Serie: | 74BCT |
| embalaje: | Tube |
| Paquete / Cubierta: | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| Otros nombres: | SN74BCT8374ANTE4 SN74BCT8374ANTE4-ND |
| Temperatura de funcionamiento: | 0°C ~ 70°C |
| Número de bits: | 8 |
| Tipo de montaje: | Through Hole |
| Nivel de Sensibilidad a la Humedad (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Número de pieza del fabricante: | SN74BCT8374ANTG4 |
| Tipo de lógica: | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Descripción ampliada: | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP |
| Descripción: | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP |
| Email: | [email protected] |
partes relacionadas de SN74BCT8374ANTG4
| Imagen | Número de pieza | Fabricantes | Descripción | Ver |
|---|---|---|---|---|
|
SN74BCT8374ADW | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | Investigación |
|
SN74BCT8373ADWRE4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | Investigación |
|
SN74BCT8374ADWRE4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | Investigación |
|
SN74BCT8374ANT | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | Investigación |
|
SN74BCT8373ADWRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | Investigación |
|
SN74BCT8374ADWRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | Investigación |
|
SN74BCT8373ADWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | Investigación |
|
SN74BCT8374ADWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | Investigación |
|
SN74BCT8373ANT | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP | Investigación |
|
SN74BCT8373ADW | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | Investigación |
Latest Noticias
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog