Comprar SN74ABTH18504APMR con BYCHPS
Compre con garantía
SN74ABTH18504APMR
- Número de pieza:
- SN74ABTH18504APMR
- Fabricante:
- Descripción:
- IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP
- Estado Libre de plomo / Estado RoHS:
- Sin plomo / Cumple con RoHS
- Cantidad disponible:
- 16723 Pieces
- Ficha de datos:
- SN74ABTH18504APMR.pdf
Introducción
BYCHIPS es el distribuidor de almacenamiento para SN74ABTH18504APMR, tenemos las existencias para el envío inmediato y también está disponible para el suministro de larga duración. Por favor envíenos su plan de compra para SN74ABTH18504APMR por correo electrónico, le ofreceremos el mejor precio según su plan.
Especificaciones
| Suministro de voltaje: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Paquete del dispositivo: | 64-LQFP (10x10) |
| Serie: | 74ABTH |
| embalaje: | Tape & Reel (TR) |
| Paquete / Cubierta: | 64-LQFP |
| Temperatura de funcionamiento: | -40°C ~ 85°C |
| Número de circuitos: | 20-Bit |
| Tipo de montaje: | Surface Mount |
| Nivel de Sensibilidad a la Humedad (MSL): | 3 (168 Hours) |
| Número de pieza del fabricante: | SN74ABTH18504APMR |
| Tipo de lógica: | Scan Test Universal Bus Transceiver |
| Descripción ampliada: | Scan Test Universal Bus Transceiver 20-Bit 64-LQFP (10x10) |
| Descripción: | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP |
| Actual - salida alta, bajo: | 32mA, 64mA |
| Email: | [email protected] |
partes relacionadas de SN74ABTH18504APMR
| Imagen | Número de pieza | Fabricantes | Descripción | Ver |
|---|---|---|---|---|
|
SN74ABTH18504APM | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | Investigación |
|
SN74ABTH182652APM | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | Investigación |
|
SN74ABTH18502APMR | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | Investigación |
|
SN74ABTH18646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | Investigación |
|
SN74ABTH16245DLG4 | Texas Instruments | IC BUS TRANSCVR 16BIT 48SSOP | Investigación |
|
SN74ABTH182502APM | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | Investigación |
|
SN74ABTH182646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | Investigación |
|
SN74ABTH16245DGGR | Texas Instruments | IC BUS TRANSCVR 16BIT 48TSSOP | Investigación |
|
SN74ABTH182504APM | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | Investigación |
|
SN74ABTH18502APM | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | Investigación |
|
SN74ABTH18652APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | Investigación |
Latest Noticias
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI to reduce costs in Wireless business; OMAP™ processors and wireless connectivity solutions will focus on embedded markets
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers