Comprar SN74ABT8652DWR con BYCHPS
Compre con garantía
SN74ABT8652DWR
- Número de pieza:
- SN74ABT8652DWR
- Fabricante:
- Descripción:
- IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
- Estado Libre de plomo / Estado RoHS:
- Sin plomo / Cumple con RoHS
- Cantidad disponible:
- 16696 Pieces
- Ficha de datos:
- SN74ABT8652DWR.pdf
Introducción
BYCHIPS es el distribuidor de almacenamiento para SN74ABT8652DWR, tenemos las existencias para el envío inmediato y también está disponible para el suministro de larga duración. Por favor envíenos su plan de compra para SN74ABT8652DWR por correo electrónico, le ofreceremos el mejor precio según su plan.
Especificaciones
| Tensión de alimentación: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Paquete del dispositivo: | 28-SOIC |
| Serie: | 74ABT |
| embalaje: | Tape & Reel (TR) |
| Paquete / Cubierta: | 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| Temperatura de funcionamiento: | -40°C ~ 85°C |
| Número de bits: | 8 |
| Tipo de montaje: | Surface Mount |
| Nivel de Sensibilidad a la Humedad (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Número de pieza del fabricante: | SN74ABT8652DWR |
| Tipo de lógica: | Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers |
| Descripción ampliada: | Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SOIC |
| Descripción: | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC |
| Email: | [email protected] |
partes relacionadas de SN74ABT8652DWR
| Imagen | Número de pieza | Fabricantes | Descripción | Ver |
|---|---|---|---|---|
|
SN74ABT8652DLRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | Investigación |
|
SN74ABT863NT | Texas Instruments | IC BUS TRANSCVR 9BIT 24DIP | Investigación |
|
SN74ABT8652DL | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP | Investigación |
|
SN74ABT8652DLG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | Investigación |
|
SN74ABT8646DW | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | Investigación |
|
SN74ABT8652DW | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | Investigación |
|
SN74ABT8646DLG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | Investigación |
|
SN74ABT863DW | Texas Instruments | IC BUS TRANSCVR 9BIT 24SOIC | Investigación |
|
SN74ABT8652DLR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | Investigación |
|
SN74ABT8652DWRE4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | Investigación |
|
SN74ABT8652DWRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | Investigación |
|
SN74ABT8646DWRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | Investigación |
|
SN74ABT861DW | Texas Instruments | IC TRANSCVR TRI-ST 10BIT 24SOIC | Investigación |
Latest Noticias
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog