Comprar SN74ABT18640DL con BYCHPS
Compre con garantía
SN74ABT18640DL
- Número de pieza:
- SN74ABT18640DL
- Fabricante:
- Descripción:
- IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
- Estado Libre de plomo / Estado RoHS:
- Sin plomo / Cumple con RoHS
- Cantidad disponible:
- 13050 Pieces
- Ficha de datos:
- SN74ABT18640DL.pdf
Introducción
BYCHIPS es el distribuidor de almacenamiento para SN74ABT18640DL, tenemos las existencias para el envío inmediato y también está disponible para el suministro de larga duración. Por favor envíenos su plan de compra para SN74ABT18640DL por correo electrónico, le ofreceremos el mejor precio según su plan.
Especificaciones
| Tensión de alimentación: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Paquete del dispositivo: | 56-SSOP |
| Serie: | 74ABT |
| embalaje: | Tube |
| Paquete / Cubierta: | 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| Otros nombres: | 296-3942-5 SN74ABT18640DLG4 SN74ABT18640DLG4-ND |
| Temperatura de funcionamiento: | -40°C ~ 85°C |
| Número de bits: | 18 |
| Tipo de montaje: | Surface Mount |
| Nivel de Sensibilidad a la Humedad (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Tiempo de entrega estándar del fabricante: | 6 Weeks |
| Número de pieza del fabricante: | SN74ABT18640DL |
| Tipo de lógica: | Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers |
| Descripción ampliada: | Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers IC 56-SSOP |
| Descripción: | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP |
| Email: | [email protected] |
partes relacionadas de SN74ABT18640DL
| Imagen | Número de pieza | Fabricantes | Descripción | Ver |
|---|---|---|---|---|
|
SN74ABT18646PM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | Investigación |
|
SN74ABT18652PM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | Investigación |
|
SN74ABT18640DGGR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP | Investigación |
|
SN74ABT18504PMR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | Investigación |
|
SN74ABT18640DLRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | Investigación |
|
SN74ABT18640DLR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | Investigación |
|
SN74ABT18504PMRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | Investigación |
|
SN74ABT18504PMG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | Investigación |
|
SN74ABT18245ADL | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | Investigación |
|
SN74ABT18245ADGGR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP | Investigación |
Latest Noticias
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog