Comprar DS2172T+ con BYCHPS
Compre con garantía
DS2172T+
- Número de pieza:
- DS2172T+
- Fabricante:
- Maxim Integrated
- Descripción:
- IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP
- Estado Libre de plomo / Estado RoHS:
- Sin plomo / Cumple con RoHS
- Cantidad disponible:
- 17962 Pieces
- Ficha de datos:
- 1.DS2172T+.pdf2.DS2172T+.pdf
Introducción
BYCHIPS es el distribuidor de almacenamiento para DS2172T+, tenemos las existencias para el envío inmediato y también está disponible para el suministro de larga duración. Por favor envíenos su plan de compra para DS2172T+ por correo electrónico, le ofreceremos el mejor precio según su plan.
Especificaciones
| Suministro de voltaje: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Paquete del dispositivo: | 32-TQFP (7x7) |
| Serie: | - |
| Potencia (W): | - |
| embalaje: | Tray |
| Paquete / Cubierta: | 32-TQFP |
| Temperatura de funcionamiento: | 0°C ~ 70°C |
| Número de circuitos: | 1 |
| Tipo de montaje: | Surface Mount |
| Nivel de Sensibilidad a la Humedad (MSL): | 3 (168 Hours) |
| Número de pieza del fabricante: | DS2172T+ |
| Interfaz: | T1 |
| incluye: | Error Counter, Pattern Generator and Detector |
| Función: | Bit Error Rate Tester (BERT) |
| Descripción ampliada: | Telecom IC Bit Error Rate Tester (BERT) 32-TQFP (7x7) |
| Descripción: | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP |
| Suministro de corriente: | 10mA |
| Email: | [email protected] |
partes relacionadas de DS2172T+
| Imagen | Número de pieza | Fabricantes | Descripción | Ver |
|---|---|---|---|---|
 |
DS2175+ | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-DIP | Investigación |
 |
DS2172T/T&R | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | Investigación |
|
DS2172T | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | Investigación |
 |
DS2176Q/T&R | Maxim Integrated | IC BUFFER RECEIVE T1 28-PLCC | Investigación |
|
DS2176QN | Maxim Integrated | IC BUFFER RECEIVE T1 IND 28-PLCC | Investigación |
|
DS2172TN+T&R | Maxim Integrated | IC BIT ERROR RATE TESTER 32TQFP | Investigación |
|
DS2175 | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-DIP | Investigación |
|
DS2172TN | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | Investigación |
|
DS2172TN+ | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | Investigación |
 |
DS2174Q+ | Maxim Integrated | IC BERT ENHANCED 44-PLCC | Investigación |
|
DS2172T+T&R | Maxim Integrated | IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP | Investigación |
 |
DS2176+ | Maxim Integrated | IC BUFFER RECEIVE T1 24-DIP | Investigación |
 |
DS2175SN | Maxim Integrated | IC ELASTIC STORE T1/CEPT 16-SOIC | Investigación |
Latest Noticias
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI to reduce costs in Wireless business; OMAP™ processors and wireless connectivity solutions will focus on embedded markets
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers